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      X射線熒光鍍層測厚儀可以同時分析15種元素，自動修正X射線重疊譜線，測量精度高、穩(wěn)定性好，是測量鍍層厚度的主要儀器。

      X射線熒光鍍層測厚儀的工作原理是對被測樣品發(fā)射一束一次X射線，樣品的原子吸收X射線的能量后被激發(fā)并釋放出二次X射線。每個化學元素會釋放出特定能量的X射線。通過測量這些釋放出的二次X射線的特征能量和強度，X射線分析儀就能夠?qū)Ρ粶y材料的鍍層厚度和成份提供定性和定量分析。因為是采用X射線進行檢測，可以達到無損檢測的效果。

      X射線熒光鍍層測厚儀可以做到快速無損測量，測量耗時短，在10秒內(nèi)就能得出測量結(jié)果，且測量結(jié)果度高，可至μin。